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XRF(X-Ray Fluorescence)는 X선을 이용하여 유기물과 무기물 원소에 대한 정성 및 정량분석을 하는데 사용합니다. 보편적인 분석과는 달리 시료를 산화용액으로 처리(전처리)하지 않고서도 비파괴 분석을 할 수 있습니다.
특정한 조건이 갖추어지면 경원소 B(원자번호 : 5) 에서 U(원자번호 : 92) 까지의 전 원소를 미량까지 신속, 정확하게 분석할 수 있으며 최근에는 각종 공장(금속, 석유, 고분자화합물, 유리, 요업재료, 도금층분석), RoHS, ELV, WEEE와 같은 품질보증을 위한 분석, 신제품 및 신공정 개발등에 사용되고 있습니다.
ZSX Primus
하면 조사 순차분석형 형광 X-선 분석장치
- 액체 시료 분석을 위한 하면 조사 방식 XRF
- X-ray generator : 4kW (60kV, 150mA)
- Ultra thin Be window (30μm)
- Micro mapping (r-θ stage, CCD 장착)
- F-PC 심선 자동세척기능 (특허)
- Automatic pressure control 기능 장착
Simultix 14
다원소 동시 분석형 형광 X-선 분석장치
- 최대 40개 원소 동시 장착
- 분말 시료 분석의 최적인 상면 조사방식 채택
- 경원소, 전원소(F~U)용 Scan Goniometer
- 시료 자동준비 장치와 장비와 연결 가능
- 진공장치, 냉각장치 내장형
ZSX Primus II
순차 분석형 형광 X-선 분석장치(상면조사형)
- 분석원소 : 4Be ~ 92U - X-ray generator : 4kW (60kV, 150mA)
- Ultra thin Be windows (30μm)
- Micro mapping (r-θ stage, CCD 장착)
- F-PC 심선 자동세척기능 (특허)
- 6 종류 diaphragm : 0.5, 1, 10, 20, 30 35mm
- Automatic pressure control 기능
ZSX Primus III +
순차 분석형 형광 X-선 분석장치(상면조사형)
- 분석원소 : 4Be ~ 92U - X-ray generator : 3kW (60kV, 100mA)
- Automatic X-Y sample changer (Max. 48)
- F-PC 심선 자동세척기능 (특허)
- 4 종류 diaphragm : 10, 20, 30 35mm
- Application package 지원
